Inspection
'
-
Miniaturní vřeteno v technologii měření
Přesné polohování senzoru pomocí miniaturního kuličkového šroubu v měřicím systému.
-
Precision cross table for wafer inspection
A precision cross table enables simultaneous inspection of silicon wafers from above and below.
-
Precision cross table with cleanroom energy chain
Precision cross table with innovative cleanroom-compatible energy supply system for inspecting wafers.